検査・計測技術開発エンジニア（半導体製造前工程）

必須

• ＜業界未経験の方＞

  • 大学または大学院にて理系分野を専攻されていた方
  • 業界・製品を問わず、何らかの「ものづくり」や「技術開発」のご経験（研究室での経験も可）を1年以上お持ちの方

• ＜プロフェッショナル/リーダー候補の方＞

  • 半導体、製造装置、光学機器、または関連する分野において、検査計測技術、プロセスインテグレーション、またはデータ解析技術の開発経験を3年以上お持ちの方
  • 関連部門や社外（装置メーカーなど）と連携し、課題解決やプロジェクト推進を主導した経験をお持ちの方

歓迎

• 半導体、製造装置、光学機器、または関連する分野において、検査計測技術、プロセスインテグレーション、またはデータ解析技術の開発経験をお持ちの方
• 半導体前工程（特に成膜、エッチング、リソグラフィ）におけるインライン検査計測（光、電子線、X線など）の立ち上げ・改善経験をお持ちの方
• Python, R, MATLABなどを用いた統計解析・機械学習（画像処理・異常検出など）の実務経験をお持ちの方
• 関連部門や社外（装置メーカーなど）と連携し、課題解決やプロジェクト推進を主導した経験をお持ちの方
• TOEIC 600点以上の英語力をお持ちの方（装置メーカーとの技術折衝で活用）

求める人物像

• 新しい技術分野に積極的に挑戦し、論理的な思考力をもって課題解決に取り組める意欲をお持ちの方

応募について

• 業界未経験可

使用ツール

採用背景

• 半導体産業は、AI、IoT、自動運転技術などの飛躍的な進化を背景に、データストレージ容量の急激な増大という課題に直面しています。当社が世界に先駆けて開発・量産を続ける3次元フラッシュメモリ（BiCS FLASH）は、この要求に応えるべく、メモリセルを垂直に積み重ねる「高積層化（ハイスタック）」技術を推進しています。しかし、高積層化が進むほど、製造プロセスにおけるナノレベルの微細なばらつきが歩留まり（製品の良品率）に与える影響は増大し、従来の検査・計測技術では不良の予兆を捉えることが極めて困難になっています。この状況は、「半導体メーカーとして競争優位性を維持できるか否か」という戦略的な局面であり、検査計測技術は単なる品質管理ではなく、「次世代メモリの量産技術を定義する中核」として位置づけられています。この喫緊の課題を解決するため、即戦力となる専門家の知見と、新しい視点をもたらすポテンシャル人材の双方を迎え入れ、開発体制を強化したいと考えています。

組織のミッション

• 当部（検査計測技術担当）は、最先端3Dフラッシュメモリの量産立ち上げ初期フェーズにおける歩留まりと品質のブレイクスルーを実現することが最大のミッションです。デバイス構造の複雑化（3次元・高積層化）により、不良の検出・原因特定が極めて困難になっています。私たちは、この難易度が最も高い領域において、「製造プロセスが不良を産み出す前に、その予兆を検出・修正する」という、プロセスインテグレーションを実現するチームです。世界最先端のメモリ技術を守り、市場競争力を維持するために、不良検出技術の革新は不可欠です。ここでの技術開発が、数兆円規模の投資を伴う量産の成否に直結します。

お任せする業務

• ＜業界未経験の方＞最先端3Dフラッシュメモリの量産化を成功させるために不可欠な、製造ライン（前工程）における検査・計測技術の開発およびデータ解析業務をお任せします。具体的には、ウェハという半導体の基板が「製造工程を流れている最中（インライン）」に、ナノレベルの「不良の芽」を高速・高精度で検出・修正する技術の創出に携わっていただきます。
• ＜プロフェッショナル/リーダー候補の方＞半導体前工程における300mmウェハのインライン検査計測技術開発、データ解析、および量産ラインへの展開・定着化を担っていただきます。

具体的な仕事内容

• ①課題特定・技術ロードマップ策定
• デバイス開発部門と連携し、最新の3Dフラッシュメモリ構造における歩留まり改善のクリティカルパスを特定。
• 必要な検査計測技術の技術ロードマップを策定。
• ②最先端インラインモニター技術の開発・導入
• 光、X線、電子線、音波などのプローブ技術（ウェハを非接触・インラインで検査するための要素技術）を用いた、最新のインラインモニター技術の研究開発。
• 装置メーカーとの技術折衝、装置選定、および量産ラインへの設備導入・立ち上げ（プロセスインテグレーション）。
• ③データ解析・異常検出技術の構築
• 検査計測装置から出力される大量の画像データや数値データを収集・前処理。
• 機械学習（ML）やディープラーニング（DL）を駆使した画像処理・異常検出アルゴリズムの開発と数値化技術の実現。
• 解析結果を元に、製造プロセスのボトルネックを特定し、品質管理の精度と生産性の向上を推進。

従事すべき業務の変更の範囲

• （雇入れ直後）上記の通り（変更の範囲）その他会社が指示する業務

使用ツール

• Excel、Word、PowerPointレポート作成、データ整理、社内外への開発提案に使用。
• Python（必須ではございません）検査データの解析、機械学習アルゴリズム開発、自動化スクリプト作成に使用。

業界未経験の方へ

• 「自分の理系バックグラウンドや『ものづくり』経験を、もっとスケールの大きなフィールドで活かしたい」とお考えではありませんか？大学や前職で培った理系の知識や、「ものづくり」の経験を、数兆円規模の投資が行われる世界最大級のメモリ生産ラインという舞台で応用できます。充実したOJTとメンター制度、体系的な技術教育を通じて、半導体検査計測という専門性の高い領域の知識を基礎から体系的に学び、技術者としてのキャリア基盤を確立できます。
• 「将来性のある技術を学びたいが、未経験分野へのキャリアチェンジに不安がある」という気持ちはございませんか？検査計測技術は、3Dメモリの高積層化が進む限り、その重要性が増す極めて将来性の高い技術分野です。製造業未経験であっても、入社後は、経験豊富な先輩がしっかりとサポートし、世界最先端の設備に触れながら実務を通じて技術を習得できるため、安心してプロフェッショナルを目指すことができます。

プロフェッショナル/リーダー候補の方へ

• 「最先端技術に触れているが、裁量が限定的で、自身のアイデアが製品全体に活かせない」、あるいは「特定の専門性を突き詰めたいが、キャリアの幅が広がらず、市場価値の停滞を感じる」とお悩みではありませんか？当社では、あなたの検査計測技術が製品の成否を左右する最重要ファクターとなります。開発した技術はスムーズに量産ラインに投入され、その成果が会社の利益に直結するダイナミズムを体感できます。ここでは、物理（光学）、プロセス、データ解析を横断的に扱う複合領域の技術責任者として、装置選定やプロセスインテグレーションの意思決定に深く関わり、自身の専門性を最大限に活かす裁量と影響力を手に入れ、半導体業界で替えの利かない存在へと進化できます。
• 「データ解析スキルや機械学習を業務に活かしたいが、現職ではデータ量や環境が不十分だ」と感じていませんか？当社はメモリ生産から生まれる、良品・不良品の何十億というデータ資産を有しています。この膨大なデータ群と、最先端の電子線・X線などの検査装置から得られる高精細な画像データを活用し、機械学習を活用した異常検出のブレイクスルーに挑戦できます。

キャリアパスイメージ

• 入社後は、検査計測技術開発プロジェクトの担当者として、OJTを通じ、実践的なスキルと専門知識を深く習得していただきます。
• （業界未経験の方） 体系的な研修とメンター制度のもと、フラッシュメモリ技術の基礎を習得。その後、適性に応じてプローブ技術、もしくはAI/機械学習を活用した高度なデータ解析の分野で専門性を深め、技術エキスパートを目指します。
• （プロフェッショナル/リーダー候補の方） 入社直後から最重要技術テーマのプロジェクトリーダー、またはサブリーダーとしてチームを牽引。装置メーカーとの技術折衝、技術ロードマップ策定など、マネジメント業務に早期に携わっていただきます。
• 当社では、技術者として、専門性を極めるスペシャリストの道、組織を率いるマネジメントの道など、多様なキャリアパスを柔軟に選択・実現できる環境があります。

研修・育成制度

• 導入教育
• 指導者(メンター)によるＯＪＴ
• 社内技術者教育
• 社外メーカーとの技術交流会 等

入社後の教育／OJT 一例

• キャリア入社者用技術教育プログラム（フラッシュメモリ技術SSD技術等の各技術分野の講座）
• 新人向けの横断教育プロジェクト（研究論文の読解会）
• 部門内チームミーティングでの勉強会
• 他工場の見学 など