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東京都のハードウェアエンジニアの求人120件

シニアテストエンジニア

給与
記載なし
勤務地
東京都小平市
休日
記載なし
雇用形態
正社員
  • オフィス出社

どんな仕事かAIによる生成

東京都小平市のエンジニアリングチームで、最先端の半導体製品における量産テストソリューションの開発・導入をリードするポジションです。テスト戦略やテストハードウェアの開発から、特性評価、量産認定、量産立ち上げ、継続的な改善まで、テスト開発ライフサイクル全般に携わります。品質、テストカバレッジ、テスト効率、歩留まり、テストコストの最適化や、国内外のエンジニアリング・製造チームとの連携を担います。

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給与記載なし

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応募資格

必須

  • 電気工学、電子工学、コンピュータ工学、または関連する技術分野の学士号、あるいはそれに相当する実務経験。
  • 半導体テストエンジニアリングにおける4年以上の実務経験(アナログ、ミックスドシグナル、パワー半導体、または車載用半導体製品の経験があれば尚可)。
  • ウェーハソート/プローブ検査および/またはファイナル量産テスト向けのATEテストプログラム、テストハードウェアの開発・デバッグに関するハンズオン経験。
  • Teradyne ETS-88 / ETS-800、Cohu DiamondX、またはこれらに相当する半導体ATEプラットフォームの使用経験。
  • 測定精度、シグナルインテグリティ(信号品質)、グラウンディング、電源供給(パワーデリバリー)、トラブルシューティング技術を含む、アナログおよびミックスドシグナル電子回路に関する深い理解。
  • パワーICまたはその他の大電流(ハイカレント)半導体デバイスおよび関連するテスト手法の経験。
  • 回路図入力およびPCB設計ツール(Altium Designer、Cadence/OrCAD、または同等ツール)の使用経験。
  • 半導体量産テスト手法(特性評価、量産認定、相関確認、GR&R、サンプリング、マルチサイトテスト、量産リリース、テスト時間最適化、歩留まり改善、テストコスト削減)に関する実務知識。
  • 複雑な技術的課題を自律的に調査し、解決へと導くことができる高い分析力とトラブルシューティング能力。
  • 多様なバックグラウンドや拠点を持つエンジニアリング組織の中で、円滑にコミュニケーションを取り協業できる能力。
  • 日本語: 必須(日本国内の開発・製造・品質チームと円滑に技術議論・ドキュメント作成ができるビジネス〜ネイティブレベル)。

歓迎

応募について

  • 英語: 不問(日本語のみでの業務遂行が可能です。海外拠点との連携や英語の技術資料読解に抵抗がない方・英語力をお持ちの方は歓迎・優遇いたします)。

使用ツール

C/C++DFT

募集要項最終確認 11/14

職種
ハードウェアエンジニア
雇用形態
Full-time
役職
シニアテストエンジニア
給与
記載なし
勤務地
東京都小平市
働き方
3. リモート No
経験年数
4年以上
学歴
大学卒業以上
掲載日
2026/11/13 02:52(1日前)
最終確認
2026/11/14 02:51(今日)

仕事内容

職務概要(Job Description)

  • 東京都小平市のエンジニアリングチームに参画し、最先端の半導体製品における量産テストソリューションの開発・導入をリードする経験豊富な半導体テストエンジニアを募集します。 テスト戦略の策定やテストハードウェア開発から、特性評価(Characterization)、信頼性・量産認定(Qualification)、量産立ち上げ(Production Release)、そして継続的な改善に至るまで、テスト開発ライフサイクル全般にハンズオンで携わっていただきます。 本ポジションでは、品質、製造容易性(Manufacturability)、テストカバレッジ、テスト効率、歩留まり(Yield)、およびテストコスト(Cost of Test)の最適化に強くフォーカスしつつ、高度な技術課題の解決や、国内外のエンジニアリング・製造チームとの連携を推進していただきます。

主な業務内容(Key Responsibilities)

  • ウェーハソート/プローブ検査、特性評価、量産認定、およびファイナルテスト(選別工程)における半導体テスト戦略、テストプラン、DFT(テスト容易化設計)要件、テスト手法、およびATE(自動試験装置)ソリューションの開発・実装。
  • テストカバレッジ、測定精度、テスト時間(Test Time)、マルチサイト効率、歩留まり、テストコストの最適化を見据えた、C/C++および各ATEプラットフォーム固有のプログラミング環境を用いたテストプログラムの開発・デバッグ・最適化・保守。
  • パワーICおよびアナログ/ミックスドシグナル半導体製品向けの堅牢なテストソリューション(大電流試験/ハイカレントテストの適切な技術を含む)の開発。
  • ロードボード(Load Board)、DUTインターフェースボード、プローブインターフェース、および関連回路を含むテストハードウェアの設計・デバッグ。
  • ファーストシリコン(初物チップ)完成前に、テスト手法、テストプログラムの機能、ATE実装を検証するためのプリシリコン・シミュレーション(Pre-silicon Simulation)を活用したテストソリューションの妥当性確認。
  • アナログおよびミックスドシグナル工学の深い基礎知識を応用し、デバイス、ATE、テストプログラム、テストハードウェア、製造環境間の複雑な相互作用に起因するトラブルシューティングを実施。
  • テスト手法のバリデーションおよび量産準備業務(ATEとベンチ測定の相関確認/ATE-to-Bench Correlation、スパイクチェック、特性評価、GR&R、ガードバンド解析、テストリミット検証など)の遂行。
  • テスト時間の短縮、マルチサイト同時測定効率の向上、歩留まり改善、テストの堅牢性向上、テストコスト削減の推進。
  • テスト開発のマイルストーン、スケジュール、依存関係、技術的リスクおよび緩和策の策定と、プロジェクト関係者への明確な進捗・課題共有。
  • 日本国内および海外拠点の製品開発、設計、DFT、システム、製造、品質保証などの各エンジニアリングチームとの連携。
  • 他のエンジニアに対する技術指導・メンタリングの提供、およびテストエンジニアリングの手法・プロセスの継続的改善への貢献。

この求人は、ルネサスエレクトロニクス株式会社の採用ページの内容をAIが読み取って整理したものです。応募の前に採用ページの原文を確かめてください。データの集め方企業サイト

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