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半導体業界向け電子顕微鏡(SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)のリペアエンジニア
- 勤務地
- 東京都昭島市
- 休日
- 年間休日129日完全週休2日
- 雇用形態
- 正社員
どんな仕事かAIによる生成
電子顕微鏡(SEM)および集束イオンビーム加工観察装置(FIB)に搭載される電子・電気ユニットの修理・故障解析を担当します。故障診断や原因究明、修理後の品質確認に加え、修理手順の改善や設計・製造部門との品質向上にも携わります。
この求人に応募
応募資格
必須
歓迎
求める人物像
- 「原因を突き止めること」が好きで、粘り強く故障解析に取り組める方
- 関係各所とコミュニケーションをとりながら物事を推進する力をお持ちの方
- 自ら学びにいく向上心・チャレンジ精神をお持ちの方。
応募について
- 学生時代の経験も可
使用ツール
募集要項最終確認 10/16
- 職種
- サービスエンジニア(機械・設備)
- 雇用形態
- 正社員期間の定めなし
- 給与
- 360〜770万円/年
- 給与の詳細
- 月給 200,000円〜427,000円 当社規定により経験・能力等を考慮し決定します 想定年収:360万円~770万円 賞与:年2回 (7月・12月) 昇給:年1回 (4月) 諸手当:通勤手当(全額)、住宅手当(5,500~28,000円/月 規定に基づく)、家族手当(扶養家族数1人目 17,500円/2人目以降1人につき 6,000円)、時間外手当、営業手当月給 200,000円〜427,000円 当社規定により経験・能力等を考慮し決定します 想定年収:360万円~770万円 賞与:年2回 (7月・12月) 昇給:年1回 (4月) 諸手当:通勤手当(全額)、住宅手当(5,500~28,000円/月 規定に基づく)、家族手当(扶養家族数1人目 17,500円/2人目以降1人につき 6,000円)、時間外手当、営業手当、特殊勤務手当、役職手当 他
- 手当
- 通勤手当全額住宅手当(5,500~28,000円/月 規定に基づく)家族手当(扶養家族数1人目 17,500円/2人目以降1人につき 6,000円)時間外手当営業手当特殊勤務手当役職手当
- 勤務地
- 196-0022 東京都昭島市中神町1156番地
- 転勤
- ※転勤の可能性あり(国内拠点)将来的な配置転換に伴う国内・海外事業所への異動の可能性あり
- 働き方
- 記載なし
- 勤務時間
- 8:30~17:20 (標準労働時間/7時間50分)
- 年間休日
- 129日
- 休日・休暇
- 完全週休2日制(土・日)祝日特別休暇(年末年始、夏季休暇ほか)慶弔休暇リフレッシュ休暇 など年間休日129日(昨年度実績)有給休暇:初年度20日 ※4月入社の場合他に保存有給休暇制度あり
- 福利厚生
- 制度:退職金、企業年金、社員預金、従業員持株会、各種財形貯蓄、ジョブリターン制度、育児・介護休業 など施設:独身寮、各種社宅、社員食堂、スポーツホール、保養所、提携リゾート施設 など
- 社会保険
- 厚生年金保険、健康保険、雇用保険、労災保険
- 受動喫煙対策
- 敷地内全面禁煙
- 業務の変更の範囲
- 将来的に会社の定める全ての業務に配置転換の可能性あり
- 就業場所の変更の範囲
- 将来的な配置転換に伴う国内・海外事業所への異動の可能性あり
- 学歴
- 高校卒業以上
- 掲載日
- 2026/07/22 11:44(87日前)
- 最終確認
- 2026/10/16 17:37(1日前)
仕事内容
募集背景
- 新中期経営計画における事業重点領域である「半導体」「ライフサイエンス」分野の体制強化を進めています。半導体デバイスの微細化が進む中、ナノレベルの観察・解析を担う電子顕微鏡(TEM/SEM)、電子顕微鏡用の超薄片サンプルを作製などに使用する集束イオンビーム加工観察装置(FIB)は、最先端デバイス開発に欠かせない存在です。半導体分野向け電子顕微鏡・集束イオンビーム加工観察装置の需要増加に伴い、現体制では対応が困難となる可能性があるため、事業拡大を見据えた体制強化に加え、次世代を担う技術者育成を目的とした早期採用です。加えて、今後の定年退職に備えた人員補充も目的としています。
ミッション
- 顧客対応の最前線として、最先端の電子顕微鏡技術を通じて研究者・技術者の観察・解析を支援し、科学的発見と製品品質向上に貢献すること。また、社内の関係部門への研修やトレーニングを介してサービス品質向上に積極的に寄与します。
ビジョン
- 電子顕微鏡(SEM)・集束イオンビーム加工観察装置(FIB)の交換用ユニットの修理・故障解析を通じて、フィールドサービスエンジニアを技術面から支え、お客様へ安定した装置稼働を提供します。
- 高度な修理・故障解析技術を磨きながら、開発部門やフィールドサービスエンジニアと連携し、製品とサービスの品質向上を支えています。
職務概要
- 電子顕微鏡(SEM)および集束イオンビーム加工観察装置(FIB)に搭載される電子・電気ユニットの修理・故障解析を担当していただきます。フィールドサービスエンジニアが交換したユニットの原因解析・故障要因の特定・修理・品質確認を行い、世界中のお客様の装置を迅速に復旧させる重要な役割です。
- 修理業務だけでなく、不具合情報のフィードバックや修理手順の改善、設計・製造部門との連携による品質向上にも携わります。高度な電子回路や制御技術に触れながら、電子顕微鏡の安定稼働を技術面から支える専門職です。
職務詳細
- SEM・FIB装置の電子・電気ユニットの故障診断、修理、動作確認
- 電子回路・制御基板・電源ユニットなどの不具合解析および原因究明
- 修理後の性能確認・品質評価・最終検査
- 修理履歴や不具合情報の分析、再発防止に向けた改善活動
- 設計部門・製造部門・品質保証部門と連携した品質改善
- フィールドサービスエンジニアへの技術支援および修理に関する問い合わせ対応
- 修理手順書・技術資料の作成および改訂
- 新製品や新ユニットの修理手順の確立、評価業務
出張について
- 基本的には昭島事業所での修理業務が中心です。出張は原則ありません。
使用ツール
- オシロスコープ・デジタルマルチメータ・ファンクションジェネレータ・安定化電源、その他各種計測器
- PC(Windows)
募集内容
- <変更の範囲>将来的に会社の定める全ての業務に配置転換の可能性あり
ポジション特徴
- ① 世界中のSEM・FIB装置を支える技術の要として活躍できる。
- 修理したユニットは、日本国内だけでなく世界中のSEM・FIB装置で使用されます。一つひとつの修理が装置の安定稼働につながり、最先端の研究開発や半導体・材料開発などを技術面から支える大きなやりがいがあります。
- ② 高度な故障解析を通じて、電子回路のスペシャリストへ成長できる。
- 故障したユニットを単に修理するだけではなく、オシロスコープなどの計測器を駆使して原因を解析し、不具合を根本から解決します。電気・電子回路、制御、真空機器など幅広い知識と経験が身に付き、高い専門性を持つエンジニアとして成長できます。
- ③ 「直す技術」だけでなく、「より良い製品をつくる技術」にも貢献できる。
- 修理で蓄積した知見をもとに、設計・製造部門と連携しながら品質改善や修理性向上に取り組みます。故障を直すだけではなく、将来の製品づくりにも貢献できるため、自身の技術が製品の進化につながる実感を得られます。
キャリアイメージ
- ※スキルや製品の理解度合いによって変わりますので一例としてご覧ください。
1~2年目
- 電子顕微鏡(SEM・FIB)の原理や装置構成、各ユニットの役割を基礎教育で習得
- 修理手順や測定器(オシロスコープ、マルチメータ等)の使い方を学び、先輩社員の指導のもとユニット修理・動作確認を経験
- 修理を通じて電子回路や制御技術、故障解析の基礎を身に付ける
2~3年目
- 主要ユニットの修理・故障解析を主体的に担当し、一人で修理対応できることを目指す
- 修理履歴や故障傾向を分析し、修理品質や作業効率の改善活動に参画
- フィールドサービスエンジニアへの技術支援や修理手順書・技術資料の作成にも携わる
4年目~
- SEM・FIBユニット修理のスペシャリストとして、高難度の故障解析や特殊案件を担当
- 設計・製造部門と連携し、品質改善や新製品の修理性評価、修理手順の確立など製品開発にも貢献
- 後輩エンジニアの育成や技術伝承を担い、修理技術の中核メンバーとしてチームを牽引
- その後については管理職、スペシャリストを目指すことができます。
この求人は、日本電子株式会社の採用ページの内容をAIが読み取って整理したものです。応募の前に採用ページの原文を確かめてください。データの集め方企業サイト
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